Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen

37,99 

Simulation mit PSPICE

Autor

Baumann, Peter

Verlag

Springer Vieweg

Einband

KT

Sprache

GER

Produktform

Kartoniert

Lieferzeit

Erscheinungsdatum

02.05.2023

Beliebtheit

181

Artikelnummer: 8593961 Kategorie:

EAN / ISBN:

9783658409562

 

 

Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit PSPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperr- Schicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler. Im abschließenden neuen Kapitel wird die Ermittlung der Modell- Parameter von Sensoren zur Erfassung von Temperatur, Licht, Feuchte, Kraft, Schall, Gaskonzentration und pH-Wert behandelt.

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